正电子湮没技术（PAS）是一种利用反物质特性探测材料微观缺陷的先进表征手段，通过正电子与电子湮灭释放的伽马光子携带材料内部信息，实现对纳米级缺陷的高灵敏度、无损、多尺度检测，广泛应用于半导体、金属、聚合物及新能源材料等领域。
超高灵敏度：对空位型缺陷的检测灵敏度达ppm量级，远超传统技术。
多尺度表征：覆盖原子尺度（如单个空位）到纳米尺度（如缺陷团）的缺陷分析。
无损动态监测：适用于材料加工、服役过程中的实时缺陷演化研究。
与同步辐射技术联用，实现缺陷结构的三维重构。
结合机器学习算法，建立缺陷特征谱数据库。
发展超短脉冲正电子束，达到飞秒级时间分辨。
开发原位测试系统，实时观测外场作用下的缺陷演化。
